Chemical analysis

Y compris analyse des gaz et analyse chimique des surfaces

Analyse chimique des surfaces — Analyse par fluorescence de rayons X en réflexion totale d'eau

Reference:

ISO 20289:2025

Publication Year:

2025

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

65 000 F CFA

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Gas analysis — Preparation of calibration gas mixtures using dynamic volumetric methods — Part 4: Continuous syringe injection method

Reference:

ISO 6145-4:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Analyse des gaz — Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques — Partie 4: Méthode continue par seringue d'injection

Reference:

ISO 6145-4:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Reference:

ISO 23812:2009

Publication Year:

2009

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

65 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode pour l'étalonnage de la profondeur pour le silicium à l'aide de matériaux de référence à couches delta multiples

Reference:

ISO 23812:2009

Publication Year:

2009

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

65 000 F CFA

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon

Reference:

ISO 17560:2014

Publication Year:

2014

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Dosage du bore dans le silicium par profilage d'épaisseur

Reference:

ISO 17560:2014

Publication Year:

2014

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

Reference:

ISO 21222:2020

Publication Year:

2020

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Microscopie à sonde locale — Lignes directrices pour la détermination des modules d’élasticité des matériaux souples en utilisant un microscope à force atomique

Reference:

ISO 21222:2020

Publication Year:

2020

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence analysis of water

Reference:

ISO 20289:2025

Publication Year:

2025

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Méthodes d'analyse chimique

65 000 F CFA

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Analyse chimique des surfaces — Analyse par fluorescence de rayons X en réflexion totale d'eau

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Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode pour l'étalonnage de la profondeur pour le silicium à l'aide de matériaux de référence à couches delta multiples

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling of boron in silicon

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Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method

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Surface chemical analysis — Total reflection X-ray fluorescence analysis of water

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