Chemical analysis

Y compris analyse des gaz et analyse chimique des surfaces

Analyse chimique des surfaces — Enregistrement et notification des données en spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS)

Reference:

ISO 16243:2011

Publication Year:

2011

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

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Surface chemical analysis — High-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis

Reference:

ISO 17974:2002

Publication Year:

2002

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

76 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à haute résolution — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire et de l'état chimique

Reference:

ISO 17974:2002

Publication Year:

2002

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

76 000 F CFA

Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Reference:

ISO 17331:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l'analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF)

Reference:

ISO 17331:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

Reference:

ISO 20341:2003

Publication Year:

2003

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

21 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode d'estimation des paramètres de résolution en profondeur à l'aide de matériaux de référence multicouches minces

Reference:

ISO 20341:2003

Publication Year:

2003

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

21 000 F CFA

Surface chemical analysis — Information format for static secondary-ion mass spectrometry

Reference:

ISO 22048:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

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Analyse chimique des surfaces — Protocole de l'information pour la spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) en mode statique

Reference:

ISO 22048:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers — Linearity of intensity scale

Reference:

ISO 21270:2004

Publication Year:

2004

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

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Analyse chimique des surfaces — Enregistrement et notification des données en spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS)

Surface chemical analysis — High-resolution Auger electron spectrometers — Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis

Analyse chimique des surfaces — Spectromètres d'électrons Auger à haute résolution — Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire et de l'état chimique

Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy

Analyse chimique des surfaces — Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l'analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF)

Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Méthode d'estimation des paramètres de résolution en profondeur à l'aide de matériaux de référence multicouches minces

Surface chemical analysis — Information format for static secondary-ion mass spectrometry

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