L'ISO 2128:2010 spécifie une méthode non destructive pour déterminer l'épaisseur des couches anodiques sur l'aluminium et ses alliages en utilisant un microscope à coupe optique.

Cette méthode est applicable, dans la plupart des cas industriels, aux couches anodiques d'épaisseur supérieure à 10 µm, ou supérieure à 5 µm lorsque la surface est lisse.

L'utilisation de la méthode spécifiée est limitée par la nécessité que les deux lignes lumineuses décrites dans le principe soient visibles et nettement séparées, c'est-à-dire qu'elle n'est pas applicable aux couches opaques ou de couleurs sombres.