Chemical analysis

Y compris analyse des gaz et analyse chimique des surfaces

Analyse chimique des surfaces — Analyse des nanocouches métalliques sur des substrats à base de fer par spectrométrie d'émission optique à décharge lumineuse

Reference:

ISO 24417:2022

Publication Year:

2022

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

76 000 F CFA

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Surface chemical analysis — Determination of the minimum detectability of surface plasmon resonance device

Reference:

ISO 24465:2023

Publication Year:

2023

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

Titre manque

Reference:

ISO 24465:2023

Publication Year:

2023

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

32 000 F CFA

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Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

Reference:

ISO 23729:2022

Publication Year:

2022

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Microscopie à force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie à force atomique dilatées par la taille finie de la sonde

Reference:

ISO 23729:2022

Publication Year:

2022

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth

Reference:

ISO/TR 15969:2021

Publication Year:

2021

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

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Analyse chimique des surfaces — Profilage d'épaisseur — Mesurage de l'épaisseur bombardée

Reference:

ISO/TR 15969:2021

Publication Year:

2021

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

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Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

Reference:

ISO 18114:2021

Publication Year:

2021

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

21 000 F CFA

Analyse chimique des surfaces — Spectrométrie de masse des ions secondaires — Détermination des facteurs de sensibilité relative à l'aide de matériaux de référence à ions implantés

Reference:

ISO 18114:2021

Publication Year:

2021

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

21 000 F CFA

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Reference:

ISO 17862:2022

Publication Year:

2022

Domain:

Méthodes d'analyse chimique

48 000 F CFA

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Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

Analyse chimique des surfaces — Microscopie à force atomique — Lignes directrices relatives au mode opératoire de restauration des images de microscopie à force atomique dilatées par la taille finie de la sonde

Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtered depth

Analyse chimique des surfaces — Profilage d'épaisseur — Mesurage de l'épaisseur bombardée

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