Titre manque
Onglets principaux
Référence:
ISO 22278:2020
Année Publication:
2020
Domaine:
This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.
76 000 F CFA
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