Analyse par microfaisceaux — Application de faisceaux d'ions focalisés pour la préparation d'éprouvettes de MET — Vocabulaire

Référence:

ISO 17297:2025

Année Publication:

2025

Domaine:

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

48 000 F CFA

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