Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur
Onglets principaux
Référence:
ISO 6342:2003
Année Publication:
2003
Domaine:
ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
21 000 F CFA
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