Optique et photonique — Holographie — Partie 2: Méthodes de mesurage des caractéristiques d'enregistrement holographique
Onglets principaux
Référence:
ISO 17901-2:2015
Année Publication:
2015
Domaine:
ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.
65 000 F CFA
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